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@a集成电路测试技术基础@Aji cheng dian lu ce shi ji shu ji chu@f姜岩峰，张晓波，杨兵编著
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@a本书主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。
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| 集成电路测试技术基础/姜岩峰，张晓波，杨兵编著.-第一版.-北京：化学工业出版社，2008.9 |
| 170页：图；24cm＋1光盘 |
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| ISBN 978-7-122-02948-5：CNY26.00(含光盘) |
| 本书主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。 |
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正题名：集成电路测试技术基础
索取号：TN4/33
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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300250589
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/33]
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在馆
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2
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/33]
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/33]
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[索取号:TN4/33]
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/33]
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在馆
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