书目信息

书名: 公差与技术测量 
作者: 杨好学 蔡霞 主编
出版信息: 北京   国防工业出版社  2009.07
开本页数: 26cm  224页
丛书名:
单 册:
中图分类: TG8
科图分类:
主题词: 公差--gong chai--配合--高等学校--教材 , 技术测量--ji shu ce liang--高等学校--教材
电子资源:
ISBN: 978-7-118-06232-8
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    公差与技术测量/杨好学, 蔡霞主编.-北京:国防工业出版社,2009.07
    224页:图;26cm
    普通高等教育“十一五”规划教材 面向应用型人才培养
    
    ISBN 978-7-118-06232-8:CNY26.00
    本书采用最新的国家标准,介绍新国家标准的规定及应用。其内容包括:绪论,极限与配合,测量技术基础,几何公差,表面粗糙度,普通结合件的互换性,典型零件的公差与测量。每章均有小结,还附有相关的公差表格、思考题与习题。
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正题名:公差与技术测量     索取号:TG8/25         预约/预借

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