书目信息

书名: 极限配合与技术测量 
作者: 张磊光 杨慧芳 主编
出版信息: 北京   电子工业出版社  2007.08
开本页数: 26cm  192页
丛书名:
单 册:
中图分类: TG8
科图分类:
主题词: 公差--gong chai--配合 , 技术测量--ji shu ce liang
电子资源:
ISBN: 978-7-121-04083-2
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    极限配合与技术测量/张磊光,杨慧芳主编.-北京:电子工业出版社,2007.08
    192页:图;26cm
    职业教育实用教材
    
    ISBN 978-7-121-04083-2:CNY17.50
    全书共分6章,主要介绍了表面粗糙度、尺寸极限与配合、技术测量、技术测量基础、形状和位置公差及其检测等内容,在每章的开始都有知识目标和学习目标,有利于学生自学。另外每章还配有针对性很强的习题,便于学生更好地掌握知识点。
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正题名:极限配合与技术测量     索取号:TG8/7         预约/预借

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